YYT 0681.18-2020 無菌醫(yi)療器械包裝(zhuang)試驗方(fang)法(fa)第18部分：用真空衰減法(fa)無損(sun)檢驗包裝(zhuang)泄漏(lou)：
將測(ce)試(shi)包裝(zhuang)放置在測(ce)試(shi)腔內(nei)施加(jia)真(zhen)(zhen)空。測(ce)試(shi)腔與真(zhen)(zhen)空源隔離﹐壓(ya)力傳(chuan)感器(絕壓(ya)或(huo)表(biao)壓(ya))單獨使(shi)用或(huo)與另一個(ge)壓(ya)差傳(chuan)感器組合使(shi)用,以監(jian)測(ce)測(ce)試(shi)腔內(nei)的(de)真(zhen)(zhen)空度(du)以及(ji)(ji)真(zhen)(zhen)空隨(sui)時間(jian)的(de)變(bian)化。真(zhen)(zhen)空衰減(jian)或(huo)測(ce)試(shi)腔內(nei)的(de)壓(ya)力上(shang)升,是由(you)于包裝(zhuang)頂空的(de)氣(qi)體通過任(ren)何泄漏(lou)從包裝(zhuang)內(nei)抽出以及(ji)(ji)背景噪聲所造成的(de)。真(zhen)(zhen)空衰減(jian)亦會是包裝(zhuang)內(nei)部(bu)分或(huo)進入泄漏(lou)通道的液體的揮(hui)發所致。對于這種情況,真(zhen)空衰減只能(neng)在測試腔內測試壓力低于該液體的汽化壓力時(shi)發生。
對(dui)于透(tou)(tou)氣(qi)屏障蓋(gai)材(cai)的(de)(de)(de)托(tuo)(tuo)盤(pan)或托(tuo)(tuo)杯,可(ke)以測(ce)試(shi)位于托(tuo)(tuo)盤(pan)或托(tuo)(tuo)杯體上和蓋(gai)材(cai)與托(tuo)(tuo)盤(pan)的(de)(de)(de)接(jie)合處的(de)(de)(de)泄漏(lou)。透(tou)(tou)氣(qi)蓋(gai)材(cai)自(zi)身的(de)(de)(de)泄漏(lou)無法被檢測(ce)到。當(dang)測(ce)試(shi)這(zhe)類包(bao)裝(zhuang)時,采(cai)取物(wu)理(li)罩(zhao)住或堵(du)(du)住透(tou)(tou)氣(qi)屏障材(cai)料(liao)表面這(zhe)一(yi)措施來防止包(bao)裝(zhuang)氣(qi)休(xiu)通過(guo)透(tou)(tou)氣(qi)蓋(gai)透(tou)(tou)出。這(zhe)可(ke)能需要(yao)視所需罩(zhao)堵(du)(du)的(de)(de)(de)方法制備一(yi)些樣品,但必須以非(fei)(fei)破壞性和非(fei)(fei)侵入性為前提。有透(tou)(tou)氣(qi)屏障蓋(gai)材(cai)包(bao)裝(zhuang)的(de)(de)(de)真空(kong)衰減(jian)可(ke)能包(bao)括來自(zi)封(feng)蓋(gai)材(cai)料(liao)和屏蔽表面之間氣(qi)體的(de)(de)(de)背(bei)景噪聲,或來自(zi)通過(guo)透(tou)(tou)氣(qi)屏障材(cai)料(liao)本身在蓋(gai)子/托(tuo)(tuo)盤(pan)密封(feng)接(jie)合處的(de)(de)(de)橫向(xiang)氣(qi)流(liu)。
測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)靈(ling)(ling)敏度取決于(yu)供試(shi)(shi)(shi)(shi)包裝(zhuang)(zhuang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)設計、傳(chuan)感器靈(ling)(ling)敏度﹑測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)腔設計,測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)系(xi)統的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)設計以(yi)及時(shi)間和壓力的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臨界測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)參數。為(wei)任意給定的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)品包裝(zhuang)(zhuang)系(xi)統選擇測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)系(xi)統和泄(xie)漏(lou)(lou)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)參數,必須建立在包裝(zhuang)(zhuang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)裝(zhuang)(zhuang)物(具(ju)有(you)(you)較(jiao)大(da)/很小(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)頂(ding)空(kong)氣休(xiu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液休(xiu)/固休(xiu))以(yi)及包裝(zhuang)(zhuang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)性質(軟或硬、透(tou)氣或非透(tou)氣)基礎之(zhi)上。儀器在擁有(you)(you)較(jiao)靈(ling)(ling)敏的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓力傳(chuan)感器,測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)腔內(nei)空(kong)隙體積最小(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)情況下,測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)系(xi)統就擁有(you)(you)能(neng)檢測(ce)(ce)最小(xiao)泄(xie)漏(lou)(lou)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)潛(qian)力。延長測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)時(shi)間能(neng)檢測(ce)(ce)到(dao)更(geng)小(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)氣休(xiu)泄(xie)漏(lou)(lou)。將背(bei)(bei)景噪聲(sheng)壓力變動降(jiang)(jiang)到(dao)蕞低﹐也能(neng)提高測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)靈(ling)(ling)敏度。對于(yu)有(you)(you)透(tou)氣屏障蓋材料(liao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)包裝(zhuang)(zhuang),罩堵技術(shu)能(neng)將背(bei)(bei)景噪聲(sheng)降(jiang)(jiang)到(dao)最小(xiao)。對于(yu)軟包裝(zhuang)(zhuang)或半硬質包裝(zhuang)(zhuang),通(tong)過合理設計測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)腔可以(yi)限制包裝(zhuang)(zhuang)膨脹來降(jiang)(jiang)低噪聲(sheng)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)系(xi)統中或供試(shi)(shi)(shi)(shi)包裴組件間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)殘留氣休(xiu)或捕(bu)捉的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)水蒸氣的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)釋放也有(you)(you)可能(neng)產(chan)生背(bei)(bei)景噪聲(sheng)。這種噪聲(sheng)可以(yi)通(tong)過延長測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)時(shi)間使真空(kong)恢(hui)復到(dao)初始水平,或延長平衡時(shi)間將其與實際(ji)泄(xie)漏(lou)(lou)區分開來。
檢測(ce)設(she)備：
; MLT-V100微(wei)泄(xie)漏無損密(mi)封(feng)測試儀(yi)
測試腔：
測(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)有(you)一個用于(yu)容(rong)納供試(shi)(shi)包裝的下腔(qiang)體和用于(yu)關閉測(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)的上腔(qiang)體。圖1示(shi)(shi)出了專門用于(yu)測(ce)試(shi)(shi)有(you)透氣(qi)屏(ping)障(zhang)蓋(gai)材包裝的測(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)。測(ce)試(shi)(shi)夾(jia)具上蓋(gai)有(you)一個彈性囊,用來在測(ce)試(shi)(shi)過程中覆蓋(gai)包裝的透氣(qi)屏(ping)障(zhang)。圖2和圖3示(shi)(shi)出了用于(yu)測(ce)試(shi)(shi)非透氣(qi)硬包裝的測(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)。后兩種測(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)沒(mei)有(you)彈性囊。
圖1 有(you)透氣屏(ping)障蓋材包裝的測試(shi)腔圖示
A.1真(zhen)空(kong)衰(shuai)(shuai)減(jian)泄(xie)漏(lou)(lou)(lou)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)是將(jiang)供(gong)試(shi)(shi)包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)暴露于外(wai)部真(zhen)空(kong)來進行(xing)的(de)(de)。施加到包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)的(de)(de)壓(ya)(ya)力(li)差使(shi)氣休(xiu)(xiu)通(tong)過(guo)包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)上(shang)的(de)(de)泄(xie)漏(lou)(lou)(lou)通(tong)道(dao)(dao)釋出。如(ru)果包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)內含有(you)液(ye)體(ti),真(zhen)空(kong)度低(di)于液(ye)休(xiu)(xiu)的(de)(de)汽化壓(ya)(ya),也將(jiang)使(shi)泄(xie)漏(lou)(lou)(lou)通(tong)道(dao)(dao)中或(huo)(huo)其附近的(de)(de)液(ye)體(ti)揮(hui)發。在(zai)一(yi)個測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)周期中,由一(yi)只(zhi)或(huo)(huo)多只(zhi)壓(ya)(ya)力(li)傳感(gan)器(qi)監視測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)(qiang)中的(de)(de)壓(ya)(ya)力(li)升高,是由于包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)內頂空(kong)氣休(xiu)(xiu)和/或(huo)(huo)揮(hui)發液(ye)體(ti)通(tong)過(guo)包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)上(shang)的(de)(de)泄(xie)漏(lou)(lou)(lou)向外(wai)遷移加背景噪聲(sheng)的(de)(de)結果所致。泄(xie)漏(lou)(lou)(lou)檢測(ce)(ce)(ce)需要(yao)真(zhen)空(kong)衰(shuai)(shuai)減(jian)超過(guo)背景噪聲(sheng)。背景噪聲(sheng)衰(shuai)(shuai)減(jian)可能是因包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)暴露于真(zhen)空(kong)下發生膨(peng)脹或(huo)(huo)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)(qiang)內或(huo)(huo)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)系統(tong)管路中存有(you)微量氣休(xiu)(xiu)或(huo)(huo)水蒸氣所致。通(tong)過(guo)對測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)(qiang)的(de)(de)設計改進,調節壓(ya)(ya)力(li)或(huo)(huo)時(shi)間參數,或(huo)(huo)在(zai)供(gong)試(shi)(shi)樣(yang)品裝(zhuang)入測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)(qiang)前將(jiang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)(qiang)暴露于真(zhen)空(kong)中一(yi)段時(shi)間可使(shi)背景噪聲(sheng)至最少。
A.2含透(tou)氣(qi)(qi)(qi)(qi)屏(ping)障(zhang)(zhang)蓋材的(de)(de)包裝可物理罩(zhao)住或堵(du)住包裝的(de)(de)透(tou)氣(qi)(qi)(qi)(qi)屏(ping)障(zhang)(zhang)表面,使得氣(qi)(qi)(qi)(qi)體通過透(tou)氣(qi)(qi)(qi)(qi)屏(ping)障(zhang)(zhang)材料釋出的(de)(de)量(liang)為最小(xiao)后進行測(ce)試。透(tou)氣(qi)(qi)(qi)(qi)屏(ping)障(zhang)(zhang)蓋材上的(de)(de)缺(que)陷不(bu)能(neng)被(bei)檢測(ce),但密(mi)封(feng)區或托盤自身上的(de)(de)缺(que)陷能(neng)被(bei)檢測(ce)。從透(tou)氣(qi)(qi)(qi)(qi)屏(ping)障(zhang)(zhang)蓋材包裝產生的(de)(de)真空(kong)衰減,可能(neng)包括(kuo)來自蓋材與罩(zhao)堵(du)表面之間的(de)(de)氣(qi)(qi)(qi)(qi)休(xiu)所形成的(de)(de)背景噪(zao)聲(sheng),或蓋材與托盤密(mi)封(feng)結合處所通過的(de)(de)橫(heng)向氣(qi)(qi)(qi)(qi)流。
A.3典(dian)型(xing)的(de)(de)測(ce)試(shi)循環(huan)是(shi),先(xian)將(jiang)(jiang)供試(shi)包裝(zhuang)放入測(ce)試(shi)腔(qiang)并(bing)罩住(zhu)或堵住(zhu)任何透氣屏障包裝(zhuang)表面(mian)。對閉合后的(de)(de)測(ce)試(shi)腔(qiang)抽真(zhen)空(kong)。在事先(xian)確(que)定的(de)(de)時(shi)(shi)間(jian)(jian)段(duan)終點,使(shi)其(qi)達(da)到初始目標真(zhen)空(kong),將(jiang)(jiang)測(ce)試(shi)腔(qiang)與(yu)真(zhen)空(kong)源隔(ge)離。經歷一個短(duan)暫的(de)(de)平(ping)衡期(qi)后,在一個預先(xian)確(que)定的(de)(de)測(ce)試(shi)時(shi)(shi)間(jian)(jian)內(nei)監測(ce)測(ce)試(shi)腔(qiang)內(nei)的(de)(de)真(zhen)空(kong)度(du)。對于許多包裝(zhuang),從測(ce)試(shi)腔(qiang)閉合到完成測(ce)試(shi)周(zhou)期(qi)可能只需要幾秒鐘的(de)(de)時(shi)(shi)間(jian)(jian)。以下描述了測(ce)試(shi)周(zhou)期(qi)的(de)(de)時(shi)(shi)間(jian)(jian),壓力以及(ji)泄(xie)漏(lou)(lou)測(ce)試(shi)接受準則等(deng)各(ge)種臨界測(ce)試(shi)參數。圖(tu)A.l示出了預期(qi)的(de)(de)有各(ge)種泄(xie)漏(lou)(lou)測(ce)試(shi)不(bu)通過模(mo)式的(de)(de)典(dian)型(xing)測(ce)試(shi)周(zhou)期(qi)。
注。以(yi)下條文中所(suo)用(yong)的臨界試驗參數的術語(yu)可能與泄漏制造商(shang)用(yong)的術語(yu)不同(tong),但(dan)定義保(bao)持一致。
A.3.1儲(chu)備真空( reserve vacuum)
儲備(bei)(bei)(bei)真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)以壓(ya)力單位mbar或Pa表(biao)示。有(you)些設(she)備(bei)(bei)(bei)用(yong)絕(jue)壓(ya)描述儲備(bei)(bei)(bei)真(zhen)(zhen)空(kong)(kong),而有(you)些設(she)備(bei)(bei)(bei)用(yong)相對大氣壓(ya)的真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)(負壓(ya))描述儲備(bei)(bei)(bei)真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)。如用(yong)真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)術語,儲備(bei)(bei)(bei)真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)宜稍微大于目(mu)標真(zhen)(zhen)空(kong)(kong);如用(yong)絕(jue)壓(ya)術語,儲備(bei)(bei)(bei)真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)宜稍小于目(mu)標真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)。
A.3.2測試前真空吹(chui)掃(sao)(flush)
測(ce)試前真空(kong)吹掃是將空(kong)的測(ce)試腔(qiang)和測(ce)試系統(tong)保持(chi)在儲備真空(kong)條(tiao)件(jian)下(xia),馬上要開始對一供試樣品進
A.3.1儲(chu)備真空(kong)( reserve vacuum)
儲(chu)(chu)備真(zhen)(zhen)空(kong)以壓(ya)(ya)(ya)力單位mbar或(huo)Pa表示。有(you)些設備用絕壓(ya)(ya)(ya)描(miao)述儲(chu)(chu)備真(zhen)(zhen)空(kong),而有(you)些設備用相對(dui)大氣壓(ya)(ya)(ya)的真(zhen)(zhen)空(kong)(負壓(ya)(ya)(ya))描(miao)述儲(chu)(chu)備真(zhen)(zhen)空(kong)。如用真(zhen)(zhen)空(kong)術(shu)語,儲(chu)(chu)備真(zhen)(zhen)空(kong)宜稍(shao)微大于目標真(zhen)(zhen)空(kong);如用絕壓(ya)(ya)(ya)術(shu)語,儲(chu)(chu)備真(zhen)(zhen)空(kong)宜稍(shao)小于目標真(zhen)(zhen)空(kong)。
A.3.2測試(shi)前真空(kong)吹掃(flush)
測(ce)(ce)試(shi)前真(zhen)空吹掃是將(jiang)空的測(ce)(ce)試(shi)腔(qiang)和測(ce)(ce)試(shi)系統(tong)保持在儲(chu)備(bei)真(zhen)空條件下,馬(ma)上要開始對(dui)一供試(shi)樣(yang)品進
行(xing)泄(xie)漏測試前的一個時間段。測試前真空吹掃不(bu)需要進行(xing)泄(xie)漏測試,但可(ke)使(shi)背景噪聲(sheng)最(zui)小化從而(er)可(ke)使(shi)泄(xie)漏測試方法的靈(ling)敏度(du)。
A.3.3目(mu)標真空
目標(biao)真空(kong)(kong)是測試(shi)周(zhou)期(qi)第一階段中(zhong)儀(yi)器程序所要達到的真空(kong)(kong)度、一旦(dan)達到目標(biao)真空(kong)(kong)度﹐真空(kong)(kong)源自動(dong)與測試(shi)腔和測試(shi)周(zhou)期(qi)進程隔離。目標(biao)真空(kong)(kong)以壓力單(dan)位mbar 或Pa表示。
A.3.4 測試真空
測(ce)試真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空是在整個測(ce)試周期中測(ce)得的(de)測(ce)試腔的(de)真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空度。測(ce)試真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空以壓(ya)力單位mbar或Pa表(biao)示。有些(xie)設備用(yong)(yong)真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(負壓(ya))表(biao)示測(ce)試真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空,有些(xie)設備則用(yong)(yong)絕(jue)壓(ya)表(biao)示測(ce)試真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空。兩者見圖A.1 。
A.3.5抽真空(kong)(kong)時間和(he)參考抽真空(kong)(kong)時間
參(can)考(kao)抽真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)時(shi)間(jian)是達到(dao)目標(biao)真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)的(de)(de)分配的(de)(de)時(shi)間(jian),達到(dao)目標(biao)真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)所必須的(de)(de)實際時(shi)間(jian)是抽真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)時(shi)間(jian)。抽真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)時(shi)間(jian)和參(can)考(kao)抽真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)時(shi)間(jian)都用(yong)時(shi)間(jian)單位秒表(biao)示(shi)。如果編(bian)程的(de)(de)測(ce)試周期是監測(ce)這一(yi)時(shi)段中真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)上升(sheng)(或絕壓下降),那(nei)就要用(yong)參(can)考(kao)真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)設(she)置和參(can)考(kao)抽真(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)(kong)時(shi)間(jian)的(de)(de)規范。
A.3.6平衡(heng)時間
平衡(heng)時間(jian)(jian)緊接在抽真空時間(jian)(jian)之后,平衡(heng)時間(jian)(jian)(用(yong)s表示)是為了使測(ce)試腔中(zhong)壓力(li)波動趨于(yu)穩(wen)定并(bing)兼顧(gu)到(dao)包裝周圍(wei)間(jian)(jian)隙中(zhong)氣體(ti)的逸出(如,從(cong)螺(luo)蓋(gai)周圍(wei))。典型的平衡(heng)時間(jian)(jian)是幾秒(miao)鐘,但當需要(yao)檢驗液(ye)體(ti)從(cong)泄漏空間(jian)(jian)中(zhong)的揮(hui)發時的快速壓升(sheng)(即失(shi)去(qu)真空)時,平衡(heng)時間(jian)(jian)可以(yi)很短(<l s)。
A.3.7測試時間(jian)
測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)時(shi)(shi)間(jian)(用s表示)緊(jin)接在(zai)平(ping)(ping)衡時(shi)(shi)間(jian)之后,在(zai)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)時(shi)(shi)間(jian)內(nei)持續監(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)真(zhen)空,以發現包裝泄漏的(de)證據(ju)。在(zai)抽真(zhen)空時(shi)(shi)間(jian)、平(ping)(ping)衡時(shi)(shi)間(jian)和(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)時(shi)(shi)間(jian)使(shi)用同一壓力傳感器測(ce)(ce)(ce)(ce)量。在(zai)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)時(shi)(shi)間(jian)內(nei)也可用另一只有較大靈敏度的(de)壓差傳感器檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)最小(xiao)泄漏引起的(de)壓力改變。
A.3.8參考真空(kong)
參考(kao)真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)定義為達到目(mu)標真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)后并在整個平衡時間和測(ce)試時間內(nei)測(ce)試腔內(nei)必須保持的(de)真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)度。參考(kao)真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)是一個稍(shao)微(wei)低于(yu)目(mu)標真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)或測(ce)試真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)的(de)真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)度,用壓力(li)單位mbar或 Pa表示,使(shi)用絕壓時參考(kao)真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)是稍(shao)微(wei)高于(yu)目(mu)標真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)或測(ce)試真(zhen)空(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)。
A.3.9參(can)考真空衰(shuai)減
參考真(zhen)空衰減(jian)定義為(wei)在測試時間內最大允許真(zhen)空降(絕(jue)壓則為(wei)上升)。參考真(zhen)空衰減(jian)可以用(yong)壓力單(dan)位 Pa或用(yong)壓力變化(hua)單(dan)位(Pa/s)表示(shi)。
A.4下(xia)列情況之一發生時,供(gong)試(shi)包裝識別為拒(ju)收(“不通過”):
a)在(zai)分配的(de)參考(kao)抽真空時間內未(wei)達(da)到(dao)目標真空;
b)在平衡時間(jian)或(huo)測試時間(jian)內(nei),測試真(zhen)(zhen)空(kong)降(jiang)至參考真(zhen)(zhen)空(kong)以(yi)下(或(huo),測試真(zhen)(zhen)空(kong)絕(jue)壓升至參考真(zhen)(zhen)空(kong)絕(jue)壓
以上);
c)在測試時間內(nei),測試腔的(de)真(zhen)空衰減(或(huo)壓升)超過了參(can)考真(zhen)空衰減(或(huo)允許的(de)壓升)。A.5下列準(zhun)則均滿足時,包裝被識別為(wei)接收(通過):
a)在設定的參考抽真(zhen)空(kong)時間(jian)內達到目(mu)標真(zhen)空(kong);
b)在(zai)平衡時間(jian)和(he)測(ce)試時間(jian)內,測(ce)試腔真空滿足或(huo)(huo)超過(guo)參考真空(或(huo)(huo)測(ce)試腔絕壓保持在(zai)等于(yu)或(huo)(huo)低(di)于(yu)
參考真(zhen)空絕壓);
以上);
c)在測(ce)試時間內(nei),測(ce)試腔的真(zhen)空衰(shuai)減(或(huo)壓(ya)升)超過(guo)(guo)了參考真(zhen)空衰(shuai)減(或(huo)允許的壓(ya)升)。A.5下(xia)列準(zhun)則均滿足時,包裝被識別為接收(通過(guo)(guo)):
a)在(zai)設(she)定的參考抽真空時間內達到目標真空;
b)在平衡時間和測試(shi)時間內(nei),測試(shi)腔真空滿足或(huo)超過(guo)參(can)考真空(或(huo)測試(shi)腔絕壓保持在等(deng)于(yu)或(huo)低(di)于(yu)
參考真空絕壓);
c)測試時間過程中,測試腔真空衰(shuai)減(jian)保持(chi)(chi)小于(yu)(yu)或等于(yu)(yu)參(can)考真空衰(shuai)減(jian)(或測試腔壓升(sheng)保持(chi)(chi)等于(yu)(yu)或低
于參考真空壓升(sheng))。
