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軟包裝的無損密封性測試-真空衰減法

 更新時間:2023-08-31 點擊量:872

      在預包(bao)裝(zhuang)食(shi)品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)、藥品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)的生產(chan)過程中,由于漏(lou)封(feng)(feng)、壓穿或包(bao)裝(zhuang)材(cai)料本身存在針孔等(deng)(deng)缺(que)陷(xian)而形(xing)成漏(lou)氣、漏(lou)液等(deng)(deng)現(xian)象(xiang),都可(ke)能會(hui)對(dui)食(shi)品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)內(nei)容物產(chan)生不(bu)良影(ying)響(xiang),導致食(shi)品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)受潮、氧化、變質等(deng)(deng)。這不(bu)僅會(hui)給企業帶(dai)來經濟損失,也(ye)有可(ke)能影(ying)響(xiang)消費者(zhe)(zhe)健康安全(quan)。本標(biao)準(zhun)能有效彌補國內(nei)現(xian)有食(shi)品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)、藥品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)包(bao)裝(zhuang)密封(feng)(feng)性測試標(biao)準(zhun)的不(bu)足,為食(shi)品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)、藥品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)和包(bao)裝(zhuang)行業及相(xiang)關機構提供(gong)另(ling)一種可(ke)靠的快速(su)定量檢測手(shou)段,并將在提升企業的產(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)質量合格率(lv)保障消費者(zhe)(zhe)健康等(deng)(deng)方面發揮(hui)積極作(zuo)用(yong)。本篇文章山東普創工業科技有限公(gong)司根據(ju)T/CNFIA 177-2023團體標準為(wei)您提供(gong)軟包裝的無損密封(feng)性測試-真(zhen)空衰(shuai)減法(fa)!

檢測設備:

                           MLT-M500(T) 微泄漏無損密封測試儀-正.jpg

                                       MLT-V100微泄漏無損密封儀

測試原理(li):

通(tong)(tong)過測(ce)量(liang)包(bao)裝件在閉合真空(kong)測(ce)試腔中的(de)壓(ya)升(sheng)(真空(kong)損失)檢測(ce)包(bao)裝的(de)密封性。待測(ce)樣(yang)品(pin)(pin)置于(yu)真空(kong)測(ce)試腔,通(tong)(tong)過真空(kong)泵把包(bao)裝產品(pin)(pin)和測(ce)量(liang)腔體之間的(de)空(kong)氣抽走,產生小于(yu)3000Pa (即30mbar>或更低(di)的(de)真空(kong)室,單位時間內檢測(ce)試驗過程(cheng)中樣(yang)品(pin)(pin)壓(ya)力差,以此計(ji)算(suan)待測(ce)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)泄漏(lou)率。

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參數設置:

依(yi)據產品(pin)包裝(zhuang)類型(xing)(如軟質包裝(zhuang)、硬質包裝(zhuang)等)來選擇測試時(shi)(shi)間(jian)及參數。測試時(shi)(shi)間(jian)依(yi)據樣(yang)品(pin)大(da)小規格而(er)定(ding),以5 s~~30 s測試時(shi)(shi)間(jian)為宜。

設備清零:

先將(jiang)設備進行清零,確保儀(yi)器運(yun)行正常;采用標(biao)準(zhun)漏(lou)(lou)孔對密(mi)封性檢(jian)(jian)測(ce)儀(yi)測(ce)試系統進行泄漏(lou)(lou)測(ce)試,驗證其具(ju)有穩定的基線泄漏(lou)(lou)率檢(jian)(jian)出能(neng)力。

測量:

將待測(ce)試(shi)樣放入密封性檢(jian)測(ce)儀(yi)進行測(ce)試(shi),讀取測(ce)試(shi)結果。

計算結果:

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