真空(kong)衰減法技術(shu)允許進行測試，以(yi)非破壞性和非侵入(ru)性的(de)方式識(shi)別密(mi)封容器中是否存(cun)在泄漏(lou)。它(ta)可適用于各種空(kong)的(de)/預充式注(zhu)射器，水針及粉針瓶（玻(bo)璃/塑料）、灌(guan)裝(zhuang)壓蓋瓶、以(yi)及其他(ta)硬質(zhi)包裝(zhuang)容器、電器元件等試樣(yang)的(de)無損正、負壓的(de)微泄漏(lou)測試。
測試項目：
1.1 測試包-可(ke)以(yi)通過此測試方法進行非破壞性評估的包包括：
1.1.1剛(gang)性和半剛(gang)性的非滑動托盤。
1.1.2用多孔(kong)阻(zu)隔蓋(gai)材(cai)料(liao)密封的托盤(pan)或杯子。
1.1.3剛(gang)性無孔(kong)包(bao)裝(zhuang)。
1.1.4柔性無孔包(bao)裝。
測試要(yao)求(qiu)
1.2.1 托盤或杯子（無蓋）（漏氣）—可以檢測到托盤/杯子直徑至少為50μm的孔或裂紋缺陷。非滑動托盤在–4·E4 Pa（–400 mbar）的目標真空下進行了測試。
1.2.2 用(yong)(yong)多孔阻隔蓋(gai)材料(liao)密封的(de)(de)(de)托(tuo)盤（頂部氣體(ti)泄漏）-可(ke)以檢(jian)測到托(tuo)盤/杯(bei)直徑至少為(wei)100μm的(de)(de)(de)孔或(huo)裂紋(wen)缺(que)陷。可(ke)以檢(jian)測到密封區域中的(de)(de)(de)通(tong)道缺(que)陷（使用(yong)(yong)直徑為(wei)125μm的(de)(de)(de)導(dao)線(xian)制成）。可(ke)以檢(jian)測連續粘(zhan)(zhan)合(he)劑和點(dian)矩(ju)陣(zhen)粘(zhan)(zhan)合(he)劑包(bao)裝系統中的(de)(de)(de)嚴重密封粘(zhan)(zhan)合(he)缺(que)陷。還可(ke)以檢(jian)測到點(dian)矩(ju)陣(zhen)粘(zhan)(zhan)合(he)劑的(de)(de)(de)粘(zhan)(zhan)合(he)不(bu)好(hao)的(de)(de)(de)缺(que)陷。所有多孔阻隔蓋(gai)材料(liao)包(bao)裝均在–4·E4 Pa（–400 mbar）的(de)(de)(de)目標真空下進行了測試(shi)(shi)。使用(yong)(yong)校準的(de)(de)(de)體(ti)積空氣流量(liang)計(ji)，對帶蓋(gai)的(de)(de)(de)多孔包(bao)裝的(de)(de)(de)測試(shi)(shi)靈敏度(du)約為(wei)E-2 Pa·m3 ·s-1。
1.2.3 剛性無孔包裝(zhuang)（頂空(kong)氣體(ti)泄漏）—可以(yi)(yi)檢測(ce)(ce)到直徑至少為(wei)(wei)5μm的(de)(de)孔缺陷。在(zai)–5·E4 Pa（–500 mbar）的(de)(de)目(mu)標(biao)真(zhen)空(kong)下測(ce)(ce)試了帶螺帽的(de)(de)塑料瓶(ping)。使用校(xiao)準(zhun)(zhun)的(de)(de)體(ti)積(ji)(ji)流量(liang)計，測(ce)(ce)試的(de)(de)靈(ling)敏度約(yue)為(wei)(wei)E-3.4 Pa·m3·s-1。充氣玻璃注射(she)器在(zai)–7.5·E4 Pa（絕(jue)對(dui)值(zhi)+250 mbar絕(jue)對(dui)值(zhi)）的(de)(de)目(mu)標(biao)真(zhen)空(kong)下以(yi)(yi)及(ji)在(zai)大(da)約(yue)+1 mbar絕(jue)對(dui)值(zhi)的(de)(de)目(mu)標(biao)真(zhen)空(kong)下進行了測(ce)(ce)試。使用校(xiao)準(zhun)(zhun)的(de)(de)體(ti)積(ji)(ji)流量(liang)計，兩種測(ce)(ce)試的(de)(de)靈(ling)敏度均約(yue)為(wei)(wei)E-4.1 Pa·m 3 ·s -1。
1.2.4 剛性無孔包(bao)裝（液體泄漏）—可以檢測到直徑(jing)至少為5μm的孔缺(que)陷。使(shi)用一(yi)群在約+1 mbar絕對真(zhen)空(kong)下測試(shi)的注水玻璃注射器(qi)驗證了該檢測限。
1.2.5 柔性無孔包(bao)裝(zhuang)(zhuang)（氣體(ti)或液體(ti)泄漏）—也可以通過真空衰(shuai)減(jian)法測(ce)試(shi)此類(lei)包(bao)裝(zhuang)(zhuang)。盡管大家知道使用真空衰(shuai)減(jian)測(ce)試(shi)這種軟(ruan)(ruan)包(bao)裝(zhuang)(zhuang)，但在精度和(he)偏差研究中并未包(bao)括軟(ruan)(ruan)包(bao)裝(zhuang)(zhuang)的靈(ling)敏(min)度數(shu)據(ju)。
測試結果：
測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)(jie)果(guo)-測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)(jie)果(guo)是定性的（接受/拒絕）。通過(guo)比(bi)較(jiao)從(cong)對(dui)照，無泄(xie)漏(lou)包(bao)(bao)裝(zhuang)獲得(de)(de)的定量基線真空衰減測(ce)(ce)(ce)量結(jie)(jie)果(guo)與使用(yong)泄(xie)漏(lou)包(bao)(bao)裝(zhuang)獲得(de)(de)的測(ce)(ce)(ce)量結(jie)(jie)果(guo)，以及通過(guo)使用(yong)校準(zhun)氣體(ti)流量計引入模擬泄(xie)漏(lou)獲得(de)(de)的測(ce)(ce)(ce)量結(jie)(jie)果(guo)，來建立(li)驗(yan)收標準(zhun)。
檢測(ce)儀(yi)器(qi)：
MLT-V100（T） 微(wei)泄漏無損(sun)密封測試儀
MLT-V100（T） 微(wei)泄(xie)漏無(wu)損密(mi)封測試儀是根據標準《ASTM F2338 包(bao)(bao)裝(zhuang)泄(xie)露的(de)(de)標準檢測方法—真(zhen)空衰(shuai)減(jian)法》研(yan)發(fa)的(de)(de)一款專業用(yong)于(yu)(yu)醫藥包(bao)(bao)裝(zhuang)，食品包(bao)(bao)裝(zhuang)微(wei)泄(xie)漏檢測的(de)(de)專業設備。微(wei)泄(xie)漏無(wu)損密(mi)封測試儀采用(yong)真(zhen)空無(wu)損測試方案，基于(yu)(yu)WINDOWS系統開發(fa)，可適用(yong)于(yu)(yu)各(ge)種空的(de)(de)/預充式(shi)注(zhu)射器，水針及粉(fen)針瓶（玻璃/塑(su)料）、灌裝(zhuang)壓蓋瓶、以及其(qi)他硬(ying)質包(bao)(bao)裝(zhuang)容器、電器元(yuan)件等試樣的(de)(de)無(wu)損正、負壓的(de)(de)微(wei)泄(xie)漏測試。
測試(shi)準備
1.1 試樣準(zhun)備(bei)
測試(shi)(shi)前，根(gen)據試(shi)(shi)樣(yang)需準備(bei)足(zu)夠數量(liang)的待測試(shi)(shi)樣(yang)。待測試(shi)(shi)樣(yang)在設備(bei)所處環(huan)境(jing)中靜(jing)置不(bu)少(shao)于30min。
準(zhun)備校準(zhun)所需的(de)陰性樣(yang)品和陽性樣(yang)品。
1.2 夾具(ju)準備
測試(shi)前，需準備(bei)與待測試(shi)樣匹配的測試(shi)腔(qiang)，并用酒精等非腐蝕(shi)性液(ye)體清潔(jie)測試(shi)腔(qiang)，晾干后(hou)放入測試(shi)夾(jia)具中(zhong)。
1.3 設備準備
1.3.1 設備通電，電腦啟動(dong)后，雙擊打(da)開測(ce)試軟件(jian)，顯示通訊連接成功，熱機(ji)5min。
1.3.2 點擊“系統設置"功能，確認測試模式為所需測試模式（正/負壓），確認后退(tui)出。
1.3.3 點(dian)擊“參數(shu)(shu)"功能，選擇或設置(zhi)測試(shi)參數(shu)(shu)，注意檢查(cha)參數(shu)(shu)與測試(shi)模式的匹(pi)配，設置(zhi)，確(que)定(ding)后(hou)退出。
1.3.4 測(ce)試腔(qiang)(qiang)中放入與(yu)待測(ce)試樣匹(pi)配的陰(yin)性樣品(pin)，閉(bi)合測(ce)試腔(qiang)(qiang)，點擊“試驗"按鈕，進行測(ce)試，檢查測(ce)試進程是否符合要(yao)求(qiu)。
1.3.5 重復上一步(bu)驟至少(shao)5次(ci)。
